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                  • S430透明底.png

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                  對(duì)比

                  編號(hào) :

                  S430近紅外光譜分析儀

                  零售價(jià)

                  市場價(jià)

                  重量

                  數(shù)量
                  -
                  +

                  庫存

                  隱藏域元素占位

                  • 詳細(xì)參數(shù)
                  • 標(biāo)準(zhǔn)配置
                  • 選購件
                    • 商品名稱: S430近紅外光譜分析儀

                    近紅外光譜分析儀(Near Infrared Spectroscopy Analyzer,NIR光譜儀)是一種常用的非破壞性分析儀器,用于對(duì)物質(zhì)進(jìn)行近紅外光譜分析。下面對(duì)近紅外光譜分析儀進(jìn)行簡單介紹。

                    近紅外光譜分析儀(Near Infrared Spectroscopy Analyzer,NIR光譜儀)是一種常用的非破壞性分析儀器,用于對(duì)物質(zhì)進(jìn)行近紅外光譜分析。下面對(duì)近紅外光譜分析儀進(jìn)行簡單介紹。

                    近紅外光譜分析儀工作原理:
                    近紅外光譜分析基于樣品在近紅外波段(約700-2500 nm)吸收和散射特性來獲得相關(guān)信息。
                    儀器通過發(fā)射一束寬帶的近紅外輻射,并測量經(jīng)過樣品后返回的反射或透射信號(hào)。
                    比較待測物質(zhì)與參考標(biāo)準(zhǔn)之間的差異,利用數(shù)學(xué)算法建立模型,并根據(jù)模型預(yù)測待測樣品中的成分、含量或其他屬性。

                    近紅外光譜分析儀特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì):
                    1、非破壞性:不需要對(duì)樣品進(jìn)行處理或破壞,可直接對(duì)固體、液體及氣體等不同形態(tài)的樣品進(jìn)行檢測。
                    2、快速:可以在幾秒鐘到幾分鐘內(nèi)完成一次掃描和數(shù)據(jù)處理,提供即時(shí)結(jié)果。
                    3、多參數(shù)檢測:可以同時(shí)檢測多個(gè)組分或?qū)傩裕谒幤?、食品、化工等行業(yè)有廣泛應(yīng)用。
                    4、無需樣品制備:不需要對(duì)樣品進(jìn)行處理、稀釋或前處理,降低了操作的復(fù)雜性和時(shí)間成本。

                    近紅外光譜分析儀使用操作規(guī)程:
                    1、根據(jù)使用說明書正確安裝儀器并連接所需電源和數(shù)據(jù)傳輸線。
                    2、打開儀器電源,并根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求選擇合適的波長范圍及參數(shù)設(shè)置。
                    3、準(zhǔn)備好待測物質(zhì)樣品,將其放置在樣品池或傳感區(qū)域中。
                    4、啟動(dòng)測量程序,在一定時(shí)間內(nèi)記錄下讀數(shù)穩(wěn)定后的光強(qiáng)值或吸收譜線。
                    5、根據(jù)需要進(jìn)行多次測量以獲得平均值,并記錄相關(guān)數(shù)據(jù)。

                    近紅外光譜分析儀是一種常用的非破壞性分析儀器,通過近紅外光譜技術(shù)獲取物質(zhì)的吸收和散射信息來預(yù)測其組成、含量或其他屬性,了解其工作原理、使用操作規(guī)程以及優(yōu)勢(shì)可以幫助用戶正確使用和解讀檢測結(jié)果。

                    項(xiàng)目

                    內(nèi)容

                    儀器型號(hào)

                    S430

                    測量方式

                    透射樣品池

                    探測器

                    日本濱松制冷型銦鎵砷(InGaAs)

                    光譜帶寬nm

                    8

                    波長范圍nm

                    900~2500

                    波長準(zhǔn)確度nm

                    ±0.2

                    波長重復(fù)性nm

                    ≤0.05

                    雜散光%

                    0.1

                    吸光度噪聲Abs

                    0.0005

                    分析時(shí)間

                    1分鐘可調(diào)節(jié))

                    數(shù)據(jù)傳輸方式

                    USB2.0

                    定標(biāo)技術(shù)

                    MPLS改進(jìn)最小二乘法回歸定標(biāo)技術(shù)

                    DPLS光譜鑒定及定性分析技術(shù)

                    關(guān)鍵詞 :
                    • 近紅外光譜分析儀
                  •  

                    標(biāo)準(zhǔn)配置項(xiàng)目

                    數(shù) 量

                    近紅外分光光度計(jì)主機(jī)

                    一 臺(tái)

                    熔絲(2A

                    2

                    產(chǎn)品保修單 

                    一份

                       

                    一 根

                    USB 通訊電纜

                    一 根

                      

                    一 份

                    產(chǎn)品合格證明書 一 份
                    產(chǎn)品使用說明書 一 本
                    10mm 矩形比色皿(石英) 一盒(兩只)
                         2mm 矩形比色皿(石英) 一盒(兩只)
                    U 一只
                    數(shù)據(jù)處理軟件(預(yù)置 U 盤內(nèi)) 一份

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